EXPEC 6500系列產(chǎn)品，系譜育科技基于十余年原子發(fā)射光譜技術(shù)的積累，推出的第三代電感耦合等離子光譜儀。采用垂直矩管雙向觀測(cè)技術(shù)，齊聚了第四代自激式固態(tài)RF源、定制的大面陣E-CCD檢測(cè)器和結(jié)構(gòu)優(yōu)化設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了儀器更高的檢測(cè)靈敏度、更寬的線性動(dòng)態(tài)范圍、更優(yōu)的穩(wěn)定性（RSD<1%@8h）和更好的樣品適應(yīng)性。
性能優(yōu)勢(shì)
數(shù)字自激式全固態(tài)射頻電源
自激式全固態(tài)射頻電源，全數(shù)字控制，功率連續(xù)可調(diào)，具有更強(qiáng)的樣品適應(yīng)性；iStandby模式提供超低功率待機(jī)功能，降低氬氣消耗50%以上；無(wú)運(yùn)動(dòng)部件結(jié)合水冷式設(shè)計(jì)，同時(shí)保證電源優(yōu)秀的穩(wěn)定性和可靠性。
新一代垂直矩管雙向觀測(cè)技術(shù)
軸向觀測(cè)獲得高靈敏度，徑向觀測(cè)避免基體干擾，同時(shí)垂直矩管可避免高鹽沉積，延長(zhǎng)矩管使用壽命，同時(shí)氬氣消耗減少，降低儀器使用成本。
大面陣E-CCD檢測(cè)器
大面陣CCD檢測(cè)器，獲得高分辨率的同時(shí)得到更寬的光譜范圍；其優(yōu)異的低噪聲、深紫外相應(yīng)結(jié)合防溢出設(shè)計(jì)，有效提升EXPEC 6500的檢出能力；大面陣設(shè)計(jì)確保儀器真正實(shí)現(xiàn)全譜一次采集，一次曝光可完成72種元素等分析。
優(yōu)秀的穩(wěn)定性和可靠性
通過(guò)高精密溫度梯度場(chǎng)仿真，風(fēng)道流體力學(xué)仿真，結(jié)合反復(fù)實(shí)踐驗(yàn)證，優(yōu)化內(nèi)部結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，使設(shè)備具有較好的環(huán)境溫度耐受性。結(jié)合RF電源，進(jìn)樣系統(tǒng)等多處關(guān)鍵部件的穩(wěn)定性設(shè)計(jì)，具有8小時(shí)連續(xù)測(cè)量數(shù)據(jù)RSD<1%的超高穩(wěn)定性。
可擴(kuò)展多種應(yīng)用需求
高分辨光學(xué)系統(tǒng)配置可滿足稀土行業(yè)檢測(cè)需求。
可擴(kuò)展樣品智能前處理設(shè)備
譜育科技為EXPEC 6500 配套開(kāi)發(fā)了樣品智能前處理系統(tǒng)，從樣品稱(chēng)量開(kāi)始，至出結(jié)果等一系列過(guò)程，“一鍵式”智能處理，不需要人工參與。
主要參數(shù)
波長(zhǎng)范圍：波長(zhǎng)范圍包含165nm-900nm，連續(xù)波長(zhǎng)覆蓋
等離子體觀測(cè)方式：雙向觀測(cè)
穩(wěn)定性：RSD≤1.0%（1mg/L，8h），《JJG768-2005發(fā)射光譜儀檢定規(guī)程》中方法
檢出限： Al、P、B、Se、Pb、 Na、K檢出限均≤10 μg/L
分析速度：≥每分鐘60個(gè)元素或譜線，而且每條測(cè)量譜線的積分時(shí)間≥10秒
應(yīng)用領(lǐng)域
水、土壤、大氣、固廢等環(huán)保領(lǐng)域，石油、化工、紡織品，冶金、礦石、高純金屬，食品、藥品，在線監(jiān)測(cè)/聯(lián)用技術(shù)等科研領(lǐng)域
· 垂直炬管，雙向觀測(cè)，適用于高精度分析，廣泛應(yīng)用于食品，環(huán)境，材料，冶金等領(lǐng)域
· 垂直炬管，徑向觀測(cè)，適用于基體復(fù)雜樣品分析，廣泛應(yīng)用于固廢，土壤，地礦等領(lǐng)域
· 全譜高分辨分析，適用于稀土等行業(yè)檢測(cè)需求
· 垂直炬管，雙向觀測(cè)，適用于高靈敏度分析，通用型檢測(cè)設(shè)備，滿足常規(guī)檢測(cè)需求
· 垂直炬管，徑向觀測(cè)，適用于基體復(fù)雜樣品分析，通用型檢測(cè)設(shè)備，滿足常規(guī)檢測(cè)需求
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